Normal Scanning Electron Microscope

측정,분석장치

미세패턴 측정장치

콘포컬 현미경

반도체 장치

특장점

주사 전자 현미경

▶최대 30만배까지 배율조정 가능 (유효배율 약 10만배)
▶강력한 터보펌프를 기본사양으로 채택
▶펌프의 소음이 없으며 시동후 3분이면 측정가능
▶Manual Stage로 보다 경제적인 가격에 운용가능
▶Automatic Control 기능 제공으로 쉽고 빠른 이미지 획득
▶모듈방식의 조립으로 보다 쉽고 편한 유지보수
▶독자기술로 개발된 제품으로 신속하고 저렴한 A/S를 제공
▶다양한 Detector 부착으로 더많은 정보의 획득 (EDS/BSE/WDS부착가능)

실험실 설비/재료

주요사양

Table top Scanning Electron Microscope

특장점

1. 사용하기 쉬운 인터페이스
2. 완벽한 수준의 오토기능
- 샘플스테이지 Full Auto사용
- 높은 수준의 Auto Focus/Contarst/Brightness/Gun Alignment기능제공
3. 최대 넓이 70mm, 높이 45mm의 시료측정이 가능한 큰 챔버
4. 최대 x100,000배까지 촬영가능
5. 시료교체시간 2분 이내의 빠른 교체가능